La prueba, caracterización y modelado de dispositivos y circuitos integrados cada vez es más compleja, a tal grado que esta etapa se convierte en la que mayor tiempo consume y generalmente determina la rapidez con que un producto electrónico es puesto al mercado.

El objetivo de este laboratorio es medir el desempeño de los dispositivos y circuitos integrados fabricados, a nivel encapsulado y/o nivel oblea, considerando características tales como: frecuencia de operación, ganancia, márgenes de fase, consumo de potencia, robustez a ruido, tolerancia a fallas, efectos de variaciones de proceso y ambientales (temperatura, ruido, radiación, etc). En base a los resultados obtenidos de estas mediciones, es posible sugerir mejoras a los dispositivos y circuitos integrados con el fin de lograr el desempeño deseado.

Algunas de las actividades del laboratorio consisten en:

• Caracterización de circuitos integrados analógicos, digitales y de modo mixto en DC y AC a frecuencias relativamente altas de operación (hasta 20 GHz).
  
• Pruebas de dispositivos MOS y circuitos integrados a diferentes temperaturas.
  
• Caracterización de transductores de silicio.
  
• Caracterización de fallas de circuitos integrados.
  
• Caracterización de los efectos de variación de los procesos de fabricación en circuitos integrados.
  

Investigador Responsable: Dr. Mónico Linares Aranda

Técnico Responsable: Guillermo Luna y Aguilar