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LABORATORIO DE PRUEBAS Y CARACTERIZACION  DE  CIRCUITOS INTEGRADOS

La prueba, caracterización y modelado de dispositivos y circuitos integrados cada vez es más compleja, a tal grado que esta etapa se convierte en la que mayor tiempo consume y generalmente determina la rapidez con que un producto electrónico es puesto al mercado.

El objetivo de este laboratorio es medir el desempeño de los dispositivos y circuitos integrados fabricados, a nivel encapsulado y/o nivel oblea, considerando características tales como: frecuencia de operación, ganancia, márgenes de fase, consumo de potencia, robustez a ruido, tolerancia a fallas, efectos de variaciones de proceso y ambientales (temperatura, ruido, radiación, etc). En base a los resultados obtenidos de estas mediciones, es posible sugerir mejoras a los dispositivos y circuitos integrados con el fin de lograr el desempeño deseado.

 

Algunas de las actividades del laboratorio consisten en:

  • Caracterización de circuitos integrados analógicos, digitales y de modo mixto en DC y AC a frecuencias relativamente altas de operación (hasta 20 GHz).
  • Pruebas de dispositivos MOS y circuitos integrados a diferentes temperaturas.
  • Caracterización de transductores de silicio.
  • Caracterización de fallas de circuitos integrados.
  • Caracterización de los efectos de variación de los procesos de fabricación en circuitos integrados.

 

Investigador Responsable: Dr. Reydezel Torres Torres

Técnico Responsable: Guillermo Luna y Aguilar


Última modificación :
22-08-2012 a las 10:41 por Laura Toxqui Olmos

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