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Dr. Reydezel Torres Torres  

Investigador Titular "C"

INAOE

Investigador Nacional (SNi-II)

Correo Electrónico:

Oficina: 2102

 

Información Curricular:

Doctorado: INAOE (2003).

Título de Tesis: “Small-Signal Modeling of Bulk MOSFETs for High-Frequency Applications.”

 

Maestría: INAOE (2000).

Título de Tesis: “Método alternativo para la extracción de la longitud efectiva de canal y la resistencia serie de un TMOS LDD.”

 

Licenciatura: Instituto Tecnológico de Querétaro (1998).

 

Líneas de investigación:

  • Ingeniería de microondas, integridad de señales y de potencia en plataformas de cómputo, interconexiones de alta velocidad, circuitos impresos, análisis basado en medición de parámetros S.

Research topics:

  • Microwave engineering, signal integrity and power integrity in computing platforms, high-speed interconnects, PCB, S-parameter measurement-based analysis.

 

Proyectos:

  • Enero 2018 – Diciembre 2020 (CONACyT: Ciencia Básica):“Análisis de la propagación de radiación electromagnética de microondas guiada en materiales heterogéneos y anisótropos.”

  • Enero 2014 (Isola Group):“Characterization, Modeling and Optimization of Dielectric Laminates for High-Speed PCBs.”

  • Enero 2012 – Diciembre 2014 (CONACyT: Ciencia Básica):“Análisis del límite tecnológico impuesto por la rugosidad y la anisotropía de substratos dieléctricos en las interconexiones de microondas.”

  • Enero 2012 – Diciembre 2014 (Consolidación SNI):“Metodología para el análisis de las pérdidas en interconexiones utilizadas en sistemas electrónicos de alta velocidad.

  • Enero 2009 – Diciembre 2011 (Intel):“Methodologies for Signal Integrity Analysis in Complex Chip-to-Chip Interconnection Channels.”

  • Enero 2007 – Diciembre 2008 (Intel): “Addressing silicon innovation through characterization, modeling, analysis, and design of compact space and energy-efficient chip-to-chip signaling, on-die RFI scanning, and self-calibrated on-die temperature solutions for computing platforms”–HIGH SPEED SIGNALING SECTION.

 

Tesis dirigidas recientemente:


Doctorado:

Erika Yasmin Terán Bahena.

Título de la tesis: Modelado y caracterización causal de interconexiones en circuito impreso considerando efectos de orden superior en el rango de las microondas.

Fecha de examen: 9 de mayo de 2019.

 

Gabriela Méndez Jerónimo.

Título de la tesis: Modelos para la representación de la propagación de ondas electromagnéticas en líneas de transmisión en los diferentes niveles de un sistema electrónico.

Fecha de examen: 10 de diciembre de 2018.

 

Diego Mauricio Cortés Hernández.

Título de la tesis: Modelado de Líneas de Transmisión de Microondas Considerando los Efectos de Distribución de Corriente Dependientes de Frecuencia.

Fecha de examen: 6 de Octubre de 2017.

 

Fabián Zarate Rincón .

Título de la tesis: Estudio del Transistor MOS para Aplicaciones en Circuitos de RF.

Fecha de examen: 26 de Agosto de 2016.

 

Miguel Ángel Tlaxcalteco Matus.

Título de la tesis: Modelado y caracterización de interconexiones para señalización de alta velocidad utilizando circuitos equivalentes.

Fecha de examen: 27 de Febrero de 2015.

 

Maestría:

Dora Alejandra Chaparro Ortiz.

Título de la tesis: Modelo escalable y dependiente de frecuencia para la representación de líneas de transmisión acopladas en tecnología PCB.

Fecha de examen: 15 de agosto de 2019.

 

María Teresa Serrano Serrano.

Título de la tesis: Determinación de la impedancia característica de líneas de transmisión en PCB considerando el efecto de las pérdidas debidas al conductor.

Fecha de examen: 16 de agosto de 2019.

 

Pedro Antonio Peralta Regalado.

Título de la tesis: Modelo analítico para la impedancia superficial de metales rugosos orientado a la representación de las pérdidas por conductor en interconexiones de circuito impreso.

Fecha de examen: 13 de diciembre de 2018.

 

Eduardo Moctezuma Pascual.

Título de la tesis: Diseño de líneas de microcinta para su aplicación en la medición de permitividad de tejidos de fibra de vidrio.

Fecha de examen: 13 de agosto de 2018.

 

Abraham Isidoro Muñoz.

Título de la tesis: Aplicación sistemática de un simulador de onda completa para el desarrollo de modelos escalables para interconexiones de alta velocidad.

Fecha de examen: 27 de febrero de 2017.

 

José Valdés Rayón.

Título de la tesis: Modelado, medición y caracterización de inductores integrados.

Fecha de examen: 26 de febrero de 2016.

 

Héctor Cuchillo Sánchez.

Título de la tesis: Caracterización del efecto de la inyección de portadores calientes en los parámetros de pequeña señal y en la frecuencia de corte de un MOSFET de RF.

Fecha de examen: 10 de diciembre de 2015.

 

Juan Carlos García Santos.

Título de la tesis: Caracterización de líneas de transmisión homogéneas a partir de sus propiedades de propagación.

Fecha de examen: 28 de septiembre de 2015.

  

Publicaciones recientes:

 

  • E. Y. Terán-Bahena, S. C. Sejas-García, and R. Torres-Torres, “Permittivity Determination Considering the Metal Surface Roughness Effect on the Microstrip Line Series Inductance and Shunt Capacitance,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 68, No. 6, pp. 2428–2434, Jun. 2020. ISSN: 0018-9480.

  • Y. Rodríguez-Velásquez, S. C. Sejas-García, and R. Torres-Torres, “A Method of Differences for Determining the Propagation Constant from Multiline Measurements,” IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Vol. 30, No. 3, pp. 116–119, Mar. 2020. ISSN: 300–303.

  • E. Moctezuma-Pascual, G. Méndez-Jerónimo, Z. O. Rodríguez-Moré, H. Lobato-Morales, and R. Torres-Torres, “Microwave Characterization of Liquid Samples Through the Systematic Parameter Extraction of the Circuit Equivalence for the Debye Model,” IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Vol. 30, No. 1, pp. 116–119, Jan. 2020. ISSN: 1531-1309.

  • E. Moctezuma-Pascual, G. Méndez-Jerónimo, H. Uribe-Vargas, R. Torres-Torres, and J. Molina-Reyes, “MIM capacitors as simple test vehicles for the DC/AC characterization of ALD-Al2O3 with auto-correction of parasitic inductance,” Microelectronics Reliability, Vol. 104, No. 1, pp. 1–7, Jan. 2020.

  • C. Sanabria-Díaz, M. Linares-Aranda, R. Torres-Torres, and A. Díaz-Sánchez, “Characterization and modeling of on-chip via stacks for RF-CMOS applications,” IEICE Electronics Express, Vol. 17, No. 4, pp. 1–5, Apr. 2020. ISSN: 1349-2543.

  • G. Méndez-Jerónimo and R. Torres-Torres, “Identifying the Loss Components Contributing to the Series Resistance of Shielded On-Chip Coplanar Waveguide Interconnects,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 67, No. 6, pp. 2208–2215, Jun. 2019. ISSN: 0018-9480.

  • J. Valdés-Rayón, R. Torres-Torres, R. S. Murphy-Arteaga, and G. A. Álvarez-Botero, “Modeling Ground-Shielded Integrated Inductors Incorporating Frequency-Dependent Effects and Considering Multiple Resonances,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 67, No. 4, pp. 1370–1378, Apr. 2019. ISSN: 0018-9480.

  • G. Méndez-Jerónimo, V.H. Vega-González, C.J. Wilson, and R. Torres-Torres, “Characterizing 10 nm node based BEOL interconnects at low-frequency regime based on a transmission-line modelling approach,” Semiconductor Science and Technology, Vol. 33, No. 9, pp. 2208–2215, Sep. 2018. ISSN: 0268-1242.


Última modificación :
20-07-2020 a las 14:17 por Laura Toxqui Olmos

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