inaoe.edu.mx
INAOE | Electrónica | Directorio | Investigadores | Reydezel Torres Torres
Asignar puntaje:
 

 

 

 

Dr. Reydezel Torres Torres  

Investigador Titular "C"

INAOE

Investigador Nacional (SNi-II)

Correo Electrónico:

Oficina: 2102

 

Información Curricular:

Doctorado: INAOE (2003).

Título de Tesis: “Small-Signal Modeling of Bulk MOSFETs for High-Frequency Applications.”

 

Maestría: INAOE (2000).

Título de Tesis: “Método alternativo para la extracción de la longitud efectiva de canal y la resistencia serie de un TMOS LDD.”

 

Licenciatura: Instituto Tecnológico de Querétaro (1998).

 

Líneas de investigación:

  • Dispositivos de microondas, integridad de señales, interconexiones de alta velocidad, circuitos impresos, mediciones eléctricas de alta frecuencia.   

 

Proyectos:

  • Enero 2018 – Diciembre 2020 (CONACyT: Ciencia Básica):“Análisis de la propagación de radiación electromagnética de microondas guiada en materiales heterogéneos y anisótropos.”

  • Enero 2014 (Isola Group):“Characterization, Modeling and Optimization of Dielectric Laminates for High-Speed PCBs.”

  • Enero 2012 – Diciembre 2014 (CONACyT: Ciencia Básica):“Análisis del límite tecnológico impuesto por la rugosidad y la anisotropía de substratos dieléctricos en las interconexiones de microondas.”

  • Enero 2012 – Diciembre 2014 (Consolidación SNI):“Metodología para el análisis de las pérdidas en interconexiones utilizadas en sistemas electrónicos de alta velocidad.

  • Enero 2009 – Diciembre 2011 (Intel):“Methodologies for Signal Integrity Analysis in Complex Chip-to-Chip Interconnection Channels.”

  • Enero 2007 – Diciembre 2008 (Intel): “Addressing silicon innovation through characterization, modeling, analysis, and design of compact space and energy-efficient chip-to-chip signaling, on-die RFI scanning, and self-calibrated on-die temperature solutions for computing platforms”–HIGH SPEED SIGNALING SECTION.

 

Tesis dirigidas recientemente:


Doctorado:

Diego Mauricio Cortés Hernández.

Título de la tesis: Modelado de Líneas de Transmisión de Microondas Considerando los Efectos de Distribución de Corriente Dependientes de Frecuencia.

Fecha de examen: 6 de Octubre de 2017.

 

Fabián Zarate Rincón .

Título de la tesis: Estudio del Transistor MOS para Aplicaciones en Circuitos de RF.

Fecha de examen: 26 de Agosto de 2016.

 

Miguel Ángel Tlaxcalteco Matus.

Título de la tesis: Modelado y caracterización de interconexiones para señalización de alta velocidad utilizando circuitos equivalentes.

Fecha de examen: 27 de Febrero de 2015.

 

Maestría:

Abraham Isidoro Muñoz.

Título de la tesis: Aplicación sistemática de un simulador de onda completa para el desarrollo de modelos escalables para interconexiones de alta velocidad.

Fecha de examen: 27 de Febrero de 2017.

 

José Valdés Rayón.

Título de la tesis: Modelado, medición y caracterización de inductores integrados.

Fecha de examen: 26 de Febrero de 2016.

 

Héctor Cuchillo Sánchez.

Título de la tesis: Caracterización del efecto de la inyección de portadores calientes en los parámetros de pequeña señal y en la frecuencia de corte de un MOSFET de RF.

Fecha de examen: 10 de Diciembre de 2015.

 

Juan Carlos García Santos.

Título de la tesis: Caracterización de líneas de transmisión homogéneas a partir de sus propiedades de propagación.

Fecha de examen: 28 de septiembre de 2015.

  

Publicaciones recientes:

  • E.Y. Terán-Bahena, S.C. Sejas-García, and R. Torres-Torres, “Characterization of Transmission Lines on PCB from S-Parameters by Determining the Dielectric and Conductor Losses at the Crossover Frequency,” IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology. 2018. ISSN: 2156-3950.

  • G. Méndez-Jerónimo, S.C. Sejas-García, and R. Torres-Torres, “Modeling and Parameter Extraction for the Metal Surface Roughness Loss Effect on Substrate Integrated Waveguides From S-Parameters,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 66, No. 2, pp. 875–882, Feb. 2018. ISSN: 0018-9480.

  • J. Molina, R. Torres-Torres, A. Ranjan, and K.-L. Pey, “Accurate modeling of gate tunneling currents in Metal-Insulator-Semiconductor capacitors based on ultra-thin atomic-layer deposited Al2O3 and post-metallization annealing,” Thin Solid Films, Vol. 638, No. 1, pp. 48–56, Sep. 2017. ISSN: 0040-6090.

  • D.M. Cortés-Hernández, Rosa J. Sánchez-Mesa, Svetlana C. Sejas-García, and R. Torres-Torres, “Extraction of Frequency-Dependent Characteristic Impedance and Complex Permittivity in Single-Ended and Edge-Coupled Transmission Lines Using the Calculated Series Parasitic Effects,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 65, No. 9, pp. 3116–3122, Sep. 2017. ISSN: 0018-9480.

  • J. Molina, R. Torres-Torres, A. Ranjan, and K.-L. Pey, “Resistive switching characteristics of MIM structures based on oxygen variable ultra-thin HfO2 and fabricated at low temperature,” Materials Science in Semiconductor Processing, Vol. 66, No. 1, pp. 191–199, Aug. 2017. ISSN: 1369-8001.

  • D.M. Cortés-Hernández and R. Torres-Torres, “Modeling the Frequency-Dependent Series Parasitics of Ground–Signal–Ground Pads Used to Probe On-Wafer Microstrip-Line-Fed Devices,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 65, No. 6, pp. 2085–2092, Jun. 2017. ISSN: 0018-9480.

  • A. Ortiz-Conde, A. Sucre-González, F. Zárate-Rincón, R. Torres-Torres, R.S. Murphy-Arteaga, J.J. Liou, and F.J. García-Sánchez, “A review of DC extraction methods for MOSFET series resistance and mobility degradation model parameters,” Microelectronics Reliability, Vol. 69, No. 1, pp. 1–16, Feb. 2017. ISSN: 0026-2714.


Última modificación :
18-04-2018 a las 10:39 por Laura Toxqui Olmos

MULTIMEDIA

Dirección: Luis Enrique Erro # 1, Tonantzintla, Puebla, México C.P. 72840 | Teléfono: (222) 247. 27.42 | Contacto: secelec@inaoep.mx

 

Esta obra está licenciada bajo una Licencia Creative Commons Atribución-No Comercial-Sin Obras Derivadas 2.5 México

Creative Commons License